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　　手持式XRF分析儀攜帶方便，樣品處理簡單，并且可以快速獲得檢測結果。對于XRF分析儀*常見的應用之一，合金鑒別，使用我們的Vanta™ XRF分析儀只需要1-2秒時間就可識別合金號。

　　手持式XRF分析儀能夠定量分析元素周期表上從鎂到重元素等超過90%的元素，覆蓋了常用商品合金所含有的絕大多數元素。圖1為常見合金元素的1檢測限。XRF分析儀能夠對鋁合金、不銹鋼、鉻鉬合金、金屬管道和法蘭材料，黃銅、青銅以及其他銅合金，金屬焊料、鈦合金、工具鋼、鎳基或鈷基等“超級合金”進行材料牌號匹配和元素定量分析。

　　手持式XRF分析儀無法直接測量比鎂輕的元素。其中包括諸如鋰、鈹和碳等元素。這些元素與很多應用有關，比如：

　　但許多此類合金的牌號仍然可以根據其他合金元素的組分進行鑒別。如果需要定量分析這些輕元素，那就需要使用其他分析方法了。

　　XRF分析儀的工作原理可以概述如下：(1) 發射X射線，激發樣品產生熒光; (2) 探測器接收X射線熒光; (3) 利用復雜的運算對數據進行處理; (4) 牌號識別 (圖2)。XRF是一種表面檢測技術。對于諸如鋁制類的輕合金，XRF分析儀只能對試樣表面深度幾百微米進行測量。對于鑄鐵或銅等主要金屬，XRF分析儀對試樣的測量深度小于一百微米。而對于金或鉛等致密材料，其僅能測量表面的數十微米。這就意味著材料表面準確體現總體成分這一點非常關鍵。諸如油漆、密封材料和鍍層以及表面污染等可能會對分析造成極大影響。與此類似，噴砂或拋丸、研磨、甚至粉塵的殘留物均可能影響材料可靠性鑒別。因此在使用XRF分析儀進行檢測之前務必對試樣進行清潔。

　　手持式XRF分析儀采用低功率X射線管。由于發射和接收的X射線功率較低，將分析儀貼近試樣就非常重要。理想情況下，試樣應當與儀器窗口面直接接觸。如果試樣具有復雜的幾何形狀那么就會存在很大難度，但Vanta分析儀的狹窄輪廓外形能夠讓儀器充分貼近諸如以90度角的卷邊焊縫材料。

　　XRF的X射線物理特性基本上不會受試樣溫度變化的影響。此外，Vanta XRF分析儀性能可靠，不會受到環境條件變化的影響。該儀器在-10°C和50°C(14–122°F)2之間的工作溫度范圍使用時不會發生溫度漂移或性能降低。

　　Vanta分析儀可測量溫度可達100°C (212°F)的試樣。高于上述溫度時，儀器檢測窗上的聚丙烯薄膜可能會受到損壞。儀景通可為高溫檢測提供替用的面板。該面板包括能夠測量溫度高達315°C (600°F)試樣的Kapton檢測窗。

　　X射線熒光光譜法是一種功能強大的元素定量分析方法。利用分析能力和簡便易用性能夠快速可靠地進行材料可靠性鑒別（PMI）。其不但可以幫助避免生產損失，更重要的是還可以避免因使用錯誤材質造成的人身傷亡事故。想要了解更多儀景通（原伊諾斯）X射線熒光分析儀（XRF）儀器可以即時致電贏洲科技（上海）有限公司18202125770。