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手持式X射線熒光光譜儀
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- 手持式X射線熒光光譜儀的檢測原理
- 2020-06-22 08:49:57 贏洲科技
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手持式X射線熒光光譜儀是用于高壓隔離開關觸頭表面金屬成分檢測的一種非常有效的分析方法，具有快速、分析元素多、分析濃度范圍寬、精度高、可同時進行多元素分析、無損檢測等優點，被廣泛應用于元素分析和化學分析領域。手持式X射線熒光光譜儀原理為：由激發源產生高能量X射線照射被測樣品，樣品表面元素內層電子被擊出后，軌道形成空穴，外層高能電子自發向內層空穴躍遷，同時輻射出特征二次X射線。每種元素都有各自固定的能量或波長特征譜線，具體與元素的原子序數有關。檢測器測量這些二次X射線的能量及數量或波長，儀器軟件將收集到的信號轉換成樣品中各種元素的種類和含量。
X射線熒光光譜儀通常可分為波長色散型和能量色散型兩大類，各自原理如圖2 所示。波長色散型光譜儀一般采用X射線管作為激發源，由檢測器轉動的2θ角可以求出X射線的波長λ，從而確定元素成分，屬于臺式儀器。能量色散型光譜儀是利用熒光X射線具有不同能量的特點，將其分開并進行檢測，從而確定元素成分和含量，可以同時測定樣品中幾乎所有的元素，激發源使用的X射線管功率較低，且使用半導體探測器，避開了復雜的分光晶體結構，因此儀器工作穩定，體積小，便攜性高，價格也較低，能夠在數秒內準確、無損地獲得檢測結果，被廣泛應用于金屬材料中元素的精確定量分析。
目前市售手持式X射線熒光光譜分析儀基本都是能量色散型X射線光譜儀。某電網使用的美國EVIDENT VANTA 手持式X射線熒光光譜儀，它不受分析樣品的大小、形狀、位置限制，無需拆卸隔離開關，可以攜帶至變電站現場，能夠分析Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Zr, Nb, Mo, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb, Hf, Ta, W, Re, Au, Pb, Bi等25種元素。贏洲科技（上海）有限公司提供儀景通手持式X射線熒光光譜儀，如果想要了解和購買可以致電我們18202125770。 - 上一篇：進口Vanta Element手持式X熒光光譜儀可以測得元素？ 下一篇：手持式X射線熒光光譜（XRF）分析儀確保食品安全無虞
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